标题: 清华大学陈震 [打印本页]

作者: qinglang    时间: 2022-11-22 21:04
标题: 清华大学陈震
陈震,2014年于中国科学院物理研究所获理学博士学位,之后于澳大利亚莫纳什大学和美国康奈尔大学做博士后研究,目前为清华大学材料学院北京电子显微镜中心副研究员。相关研究工作获得图像分辨率吉尼斯世界纪录和两院院士评选的2021年世界十大科技进展新闻。入选国家级人才青年项目(优先资助)、MIT Technology Review 2021年度中国区35位35岁以下创新人物,获得美国显微学会博士后奖。相关工作以第一作者或通讯作者发表在Nature、Science和Nature Nanotechnology等期刊上。
陈 震副研究员
博士
电话:+(86) 010-62773580
电子邮箱:zhenchen01@mail.tsinghua.edu.cn
办公地址:清华大学东主楼北京电子显微镜中心



教育背景
2004/09-2008/07 武汉大学物理科学与技术学院物理学基地班专业,理学学士
2008/09-2014/07 中国科学院物理研究所/中国科学院大学,理学博士
2012/11-2013/10 Max Planck Institute for Solid State Research, Stuttgart Center for Electron Microscopy,德国,访问学生



工作经历
2014/09-2016/08 澳大利亚莫纳什大学(Monash University),博士后
2016/09-2021/08 美国康奈尔大学(Cornell University),博士后



近期代表性论文如下(完整列表见Google scholar或Researchgate):
1. Z. Chen*, Y. Jiang, Y. T. Shao, M. E. Holtz, M. Odstril, M. Guizar-Sicairos, D. Schlom, D. A. Muller*. Electron ptychography achieves atomic-resolution limits set by lattice vibrations, Science, 372, 826 (2021).
2. Z. Chen, M. Odstrcil, Y. Jiang, Y. Han, H. Chiu, L. Li, D. A. Muller*. Mixed-state electron ptychography enables sub-angstrom resolution imaging with picometer precision at low dose, Nature Communications 11, 2994 (2020).
3. Y. Jiang#, Z. Chen#, Y. Han, P. Deb, H. Gao, S. Xie, P. Purohit, M. W.  Tate, J. Park, S. M. Gruner, V. Elser, D. A. Muller*, Electron ptychography of 2D materials to deep sub-ångström resolution, Nature 559, 343-349 (2018)
4. T. Xu#, Z. Chen#, H. Zhou, Z. Wang, Y. Dong, L. Aballe, M. Foerster, P. Gargiani, M. Valvidares, D. M. Bracher, T. Savchenko, K. Armin, S. G. Je, M. Im, D. A. Muller*, and W. Jiang*. Imaging the spin chirality of ferrimagnetic Néel skyrmions stabilized on topological antiferromagnetic Mn3Sn, Physical Review Materials 5, 084406 (2021) (Editors’ suggestion)
5. A. M. Park#, Z. Chen#, X. Zhang, L. Zhu, R. A. Buhrman, D. A. Muller, G. D. Fuchs*. Operando control of skyrmion density in a Lorentz transmission electron microscope with current pulses, Journal of Applied Physics 128, 233902 (2020).
6. Z. Chen, M. Weyland, X. Sang, W. Xu, J. H. Dycus, J. M. LeBeau, A. J. D’Alfonso, L. J. Allen, S. D. Findlay*, Quantitative atomic resolution elemental mapping via absolute-scale energy dispersive X-ray spectroscopy. Ultramicroscopy 168, 7-16 (2016)
7. Z. Chen*, M. Weyland, P. Ercius, J. Ciston, C. Zheng, M. S. Fuhrer, A. J. D’Alfonso, L. J. Allen, S. D. Findlay, Practical aspects of diffractive imaging using an atomic-scale coherent electron probe. Ultramicroscopy 169, 107-121 (2016).







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