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[材料测试] 东华大学分析测试中心场发射透射电子显微镜(FE-TEM)

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发表于 2017-4-25 08:56:13 | 显示全部楼层 |阅读模式
仪器型号:JEM-2100F
生产厂家:日本JEOL
主要配置:STEM探测器、HAADF探测器,IET 200型X射线能量色散谱仪(英国Oxford), 652型双倾加热样品台,613型单倾冷冻样品台,SA2000型原位纳米材料单体力学性能表征单倾样品台,ST1000型原位纳米材料单体电学性能表征单倾样品台。
主要技术指标:加速电压: 80~200 kV;放大倍数:TEM 50~1,500,000,STEM(HAADF)100~50,000,000;TEM点分辨率: ≤0.19nm,TEM晶格分辨率: ≤0.10 nm;STEM(HAADF)分辨率: ≤0.20nm;元素检测范围:5B~92U。
主要用途:材料内部微观结构分析;样品微区的元素成分及其分布的分析;加热或冷冻情况下材料微观结构的分析;一维纳米材料的原位电学性能和力学性能测试。
仪器责任教师:阎捷(B111室)
地址:上海市松江区人民北路2999号 东华大学五号学院楼B区 东华大学分析测试中心
电话:(021)67792821;(021)67792818
传真:(021)67792818
邮箱:fxcs@dhu.edu.cn
邮编:201620


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