XeUSS2.0是Xenocs公司开发的新一代X射线小角散射仪(SAXS/WAXS),采用微聚焦点光源、Scatterless Slits 2.0 无散射狭缝、零噪音探测器等技术,能够实现小角广角信号同时在线采集,是目前实验室研究亚微观结构和形态特征最完美的解决方法,主要应用于纳米材料,介孔材料、高聚物、胶体分散体系、粉末、液晶、生物大分子、石油、化工、纺织等领域的科学研究实验。 Xeuss 2.0 卓越的测试性能源自于Xenocs特有的无散射准直狭缝专利技术,搭配模块化光路,无需调光。 SAXS是在原光束附近小角度范围内(<3~5°)电子对X射线发生的散射现象,它是研究物质在纳米尺度上(1~100nm)的几何结构的主要手段之一。Xeuss 2.0是法国Xenocs公司经过14年攻坚的技术成果,独特的三维聚焦镜技术和无散射狭缝技术,搭配高亮度、低发散的微聚焦点光源,使得Xeuss 2.0一经推出,就引起了SAXS/WAXS 研究领域的广泛关注和青睐。 应用领域: 纳米材料(形核生长、粒度与分布);聚合物(结晶过程、外场诱导作用);生物体系(蛋白形状、初级相位、生理环境);医药体系(药理、界面);其他体系(多尺度分级结构、天然/人工复合材料)。 GeniX3D 微聚焦点光源 光源功耗仅为30W,焦斑尺寸30μm,但功率密度却是1.2kW密封管光源的10倍。先进的微聚焦点光源技术,光源更亮、性能更稳定、寿命更长、维护费用更低。 FOX3D 单片椭圆形单次全反射多层膜聚焦镜 单次全反射三维聚焦镜是Xenocs公司的独家专利技术。利用这种独特的光学元件能够产生高准直的平行光路(发散度<0.4 mrad),聚焦效率比传统的多次反射二维聚焦镜高50%。 无散射狭缝 Scatterless 2.0 特有的无散射狭缝准直专利技术,使得背景噪音比普通准直系统低10倍。该技术使Xeuss 2.0 的最小散射矢量qmin可达到0.01 nm-1,信噪比超过90。 超大样品腔 Xeuss 2.0配备了超大样品腔,可进行真空或常压环境测试。开放的样品腔设计,允许Xeuss 2.0安装各种样品架,如:温控台、湿度台、拉伸台、剪切台、低噪音液体样品池等,满足各种测试需求。 凝结了先进技术的探测器 Xeuss 2.0与Dectris的密切合作,不但可以装配标准的Pilatus3和Eiger探测器,还可以根据特殊需求定制。此外,Xeuss 2.0还可装配SWAXS混合像素探测器模块,可同时进行SAXS/ WAXS测试,实现0~60°的连续信号采集,拥有目前市场上最先进的探测能力。 强大、易用的软件支持 Xeuss 2.0 配备了一套强大、易用的软件来进行系统控制、数据处理和分析。软件提供图形化操作界面和macroscript模式两种,可方便地对SAXS、WAXS和SWAXS的一维、二维数据进行处理,并提供了结构参数,方便对数据进行分析。 声明:本网部分文章和图片来源于网络,发布的文章仅用于材料专业知识和市场资讯的交流与分享,不用于任何商业目的。任何个人或组织若对文章版权或其内容的真实性、准确性存有疑义,请第一时间联系我们,我们将及时进行处理。 |
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