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中国科学院院士李方华

2018-1-14 09:12| 发布者: bluesky| 查看: 119| 评论: 0

摘要: 李方华,物理学家 1932年1月生于香港,籍贯广东德庆。1956年毕业于苏联列宁格勒大学物理系。1993年当选为中国科学院院士。1998年当选为第三世界科学院院士。 中国科学院物理研究所研究员,曾任中国电子显微学会理事 ...

李方华,物理学家 1932年1月生于香港,籍贯广东德庆。1956年毕业于苏联列宁格勒大学物理系。1993年当选为中国科学院院士。1998年当选为第三世界科学院院士。 中国科学院物理研究所研究员,曾任中国电子显微学会理事长。

1932年,李方华出生于香港。1952年,被保送到前苏联列宁格勒大学物理系学习。

1956年,以优异成绩毕业回国来到中国科学院物理研究所工作。

1960年起,李方华开始独立从事科研工作。她用自己改装的设备开展了电子衍射单晶体结构的分析与研究,在中国最早开展单晶体衍射结构分析和测定晶体中氢原子位置的工作。在填补空白的同时,她还提出一种校正电子衍射动力学效应的方法。

上世纪70年代动荡的社会环境下,李方华一直没有停止过学习和科研活动。文化大革命后期,她与同事合作,研究钆钴非晶磁膜的结构与磁性的关系,负责测定非晶体的径向分布函数。这一工作填补了中国非晶体电子衍射结构分析的空白,并发展了重量悬殊原子对的简便测定方法。

1973年,李方华敏锐地注意到高分辨电子显微学作为电子显微学的一个新分支学科,正在国外萌芽发展,便开始跟踪这一新学科的进展。文革结束后,她积极推动国内在此领域中的研究工作,成为最早向国内同行介绍高分辨电子显微学发展动态的人,还在中国科学院物理研究所建立了中国最早的高分辨电子显微学研究组,开展了高温超导体、半导体、合金、氧化物和矿物等材料的点阵像研究,发现许多新的结构现象。

1982年,李方华到日本大阪大学应用物理系做访问学者,在较短时间内拍摄出合格的显微像。随后,她发现并改正了该实验室显微像计算程序的错误,完成了计算工作,测定了该矿物中轻原子的位置。她的一系列出色工作,在妇女地位甚低的日本引起了震动。

2003年2月27日,李方华以其对科学事业的卓越贡献在巴黎受奖,成为中国首次获得“欧莱雅—联合国教科文组织(UNESCO)世界杰出女科学家成就奖(ForWomeninScience)”的科学家。

20世纪60年代提出校正电子衍射动力学效应的方法,借此测定了晶体中的氢原子位置。70年代合作建立了衍射晶体学与高分辨电子显微学相结合的图像处理技术,用此测定了多种微小晶体的结构。80年代提出一种高分辨电子显微像衬度理论,是上述技术的理论依据,也是首次观察到晶体中轻原子锂的理论指导。提出了基于相位子缺陷的准晶体结构测定方法,并付诸实际应用。近十年建立了测定原子分辨率晶体缺陷的图像处理技术,成功应用于半导体和超导体材料。2003年获“欧莱雅—联合国教科文组织世界杰出女科学家成就奖”。 2005年获国家自然科学奖二等奖(第一完成人)。

研究课题

目前的研究课题及展望:负责国家973课题一项和国家自然科学基金两一项,研究内容包括(1)高分辨电子显微学和电子晶体学方面

六十年代初期,李方华最早在我国开展了电子衍射测定单晶体结构的工作,在中国首次测定出晶体中氢原子的位置,有关文献至今仍被国外同行引用。

七十年代,李方华与范海福合作,探讨了衍射方法与高分辨电子显微学相结合的研究,创建了高分辨电子显微学中一种新的图像处理理论和技术。后来,她和她的学生建立了基于最大熵原理的解卷处理技术。为测定微小晶体结构提供了重要途径。目前已成功地应用于测定高温超导体等材料的晶体结构。

八十年代在日本留学期间,李方华总结出新的实验规律,发展了测定轻原子位置的方法。在此基础上,回国后她提出了一个新的像衬理论:“赝弱相位物体近似",该理论首次阐明了像强度与晶体厚度之间的关系,揭示了轻重不同原子像强度的变化规律,是上述图像处理技术的理论依据。在该理论指导下,李方华等首次从实验观察到晶体中的锂原子。此外,她用高分辨电子显微学手段参加了早期的高温超导材料研究,是国际上最早报道铋系超导体有无公度调制结构的小组之一。

(2)准晶体方面

李方华所领导的研究组最早发现并报导了准晶与晶体之间几乎连续的转变过程,她对此给予理论解释。李方华借助相位子应变场导出了反映准晶与晶体之间的关系的一些公式,并在此基础上提出了一种测定准晶结构的新方法,以及求定准晶中局域相位子应变量的方法。并成功地应用于Al-Cu-Li和Al-Mn-Si准晶。

(3)晶体缺陷方面

李方华针对新发展的场发射电子显微镜,提出了测定原子分辨率晶体缺陷的新研究方向。目前,已成功地用她提出的方法测定了SiGe/Si外延膜界面的60度位错分解为90度和30度两个不全位错,及其间夹着的一片层错。这也是第一次报道SiGe/Si外延膜界面原子分辨率的缺陷。

以上课题工作寓有许多创新点,通过研究生的努力,将进一步推动相关学科的发展,并提供新材料的晶体结构资料,有助于得出材料性能、结构与工艺之间关系的规律。



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