布鲁克S4TStar X射线荧光成像光谱仪

浓度

ppb 到 100%

检测限值

Ni< 1 pg

样品类型

液体、悬浮液、粉末、颗粒物、金属、薄层、组织、晶片、   滤片等

样品量

液体和悬浮液,从1微升到50微升

颗粒物,直径100微米以下;粉末,10微克以下

样品更换器

自动样品更换器,10个托盘   自动托盘检测,用于鉴别样品类型

容量

样品托盘1: 30毫米盘片,*多90个盘片

样品托盘2:显微镜载玻片,*多30个载玻片

样品托盘3: 2英寸晶片,*多50个晶片

样品托盘4:矩形,小于54毫米,*多50个样品   样品托盘5:用户定义

X射线管

*高50W,金属陶瓷,*高50 Kv, 1mA,空气冷却

X射线光学件

多层膜单色仪

激发模式

Mo-K, 17.5 Kev

W■可致辐射,35 Kev; W-L, 8.4 Kev

Cu-K, 8.0 Kev

Cr-K, 5.4 Kev

检测器

珀尔帖冷却XFIash®硅漂移检测器

不需要液氮

探测器有效面积:60 mm²,选配:100 mn?

能量分辨率<149ev (在1 OOKcps (锭Ka),)

接口

通过TCP/IP进行数据交换(RJ45电缆)

电源

100/240 V, 50/60 HZ

尺寸

528mmx693mmx512mm (高x宽x深)

重量

80 Kg

附件

清洗盒,用于样品载体、存放盒

TXRF起动器套件(移液管、尖头、试管、研钵、药匙)