布鲁克ARTAX X射线荧光成像光谱仪

ARTAX 是第一个商业化的便携式微区 X 射线荧光光谱仪,设计用于满足对独特的和贵重的物品如考古和艺术品进行现场成分分析的需求。

系统可以对 Na (11)-U (92)之间的所有元素进行多元素同时分析,空间分辨率可以达到 70 微米。

测量采用非破坏、非接触式方法,调查过程中不会损害任何物品。30 分钟之内就可以在现场安装和操作 ARTAX。操作 ARTAX 惟一需要的就是正常供电。

根据应用要求及可用预算,有几种配置好的光谱仪可供选择,这些配置具备不同的功能和用户舒适度。

布鲁克ARTAX X射线荧光成像光谱仪 主要技术特点

对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析,分析元素范围11Na-92U,空间分辨率达到70微米。

第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术, 不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。

灵活的设计,样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台,防碰撞保护,可以自动完成点、线、面扫描功能。

配有各种靶材的低功率X射线光管、CCD相机、微聚焦多孔毛细管镜、XYZ样品台、激光定位系统。

微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上。

根据应用要求不同,可提供多种配置。

应用:文物保护、文物修复、考古、艺术品、笔迹鉴定、书画、刑侦、材料研究、电子、汽车、航空航天等领域。