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扫描探针(SPM)功能成像已经被广泛用于诸多纳米材料领域中。扫描探针频谱分析的目标是从悬臂的动态特征来推断材料的结构和功能:特别是过去十年间,扫描探针技术在多通道,宽频带/高维数据收集方面取得了显著进展, ...
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