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近日,日本研究人员利用扫描隧道显微镜开发出更好地测量和操控导电材料的方法,使电子设备向更快、更先进的方向迈出了一步。 该团队于7月在美国化学学会期刊Nano Letters上发表了这一研究成果。该研究由东京大学 ...
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