美国TA仪器公司DIL 806 光学热膨胀仪

美国TA仪器公司DIL 806 光学热膨胀仪是一款多功能的热膨胀和收缩测量仪器,该仪器使用创新性测量原理,能够用于非常规性实验,还可改善诸多常规性测试。

DIL 806 中使用的光学热膨胀测量方法是一个绝对的测量过程,完全不受仪器的膨胀或收缩影响。因此,测量结果不需要根据不同的温度程序来进行校正或校准。通过与 DIL 806 炉的快速响应特性相结合,该系统非常适合涉及多个温度步骤和动态加热速率的动态分析过程。

高性能 LED 向样品发射宽幅平面光,并由高分辨率 CCD 传感器检测样品阴影。然后检测到的信号由数字化边缘检测处理器进行评估,从而灵敏并准确地测量尺寸的变化。该原理被称为阴影光方法,能够准确、绝对地测量样品尺寸随温度的变化。

样品被置于盘形炉的中心平台上,不受外力作用。因此,DIL 806 膨胀仪尤其适合测量金属,并且在配备可选的零度以下炉子时可测量塑料样品。

薄样品也可采用专为此类应用设计的样品支架来轻松进行分析。

宽幅入射光线意味着该仪器不像其他传统膨胀测量技术那样要求严格的样品制备,并且样品在平台上的位置不需要精确定位,这样不熟练的操作人员也可轻松使用。

仪器自动测定和保存初始长度,以用于后续的线性热膨胀系数计算。

炉体能够采用最高达 100 ℃/min 的速度快速加热,并在 10 分钟内从 1400 ℃ 冷却至 50 ℃。

美国TA仪器公司DIL 806 光学热膨胀仪技术参数

       美国TA仪器公司DIL 806 光学热膨胀仪应用

金属 – 薄膜的热膨胀

传统上来说,由于顶杆接触力,顶杆热膨胀仪测量的薄膜可能是有问题的。DIL 806光学膨胀仪是理性的表征薄膜和其他对样品尺寸和制备有限制的材料的仪器。在这个例子中,薄钢箔的热膨胀和相变,由DIL 806非接触式光学膨胀仪测量表征。测量过程是绝对的和非接触式的,所以不需要系统校准曲线。有使用的样品架支撑薄膜样品。

快速烧成陶瓷

DIL 806固有的非常快的升温速率、出色的温度均匀性和简单的编程,非常适合模拟工业生产过程。生坯陶瓷的快速烧成过程由于可以节省能源和时间,因此是可取的。然而,在许多情况下,这种类型的热处理产生不完全的致密化最终产品。在这个例子中,样品被迅速加热,直到到达一个用户定义的收缩率。在这个时候,使用多重等温和冷却速率,以密切检测材料的烧结行为。通过微调这些温度控制参数,并基于热膨胀仪测量,该工业过程可以简化,实现流水化生产,生产出期望的物理性质和具备加工成本优势的最终产品。