马尔文帕纳科Zetasizer Nano S纳米粒度电位仪

Zetasizer Nano S是一款科研级动态光散射系统，可进行亚微米颗粒、分子尺寸以及分子量的测量，具有性能高、功能多、便于使用的特点。 该系统日后可升级为带有zeta电位测量功能的系统。

马尔文帕纳科Zetasizer Nano S纳米粒度电位仪概述

如果需要最高的灵敏度和最大的检测范围，Zetasizer Nano S无疑是最佳选择。 其测定功能与顶级的Zetasizer Nano ZS系列相同。

作为颗粒分析仪使用时，可增强对聚集体、对小颗粒、稀释样品，或高浓度样品的测量。作为分子量分析仪使用时可进行分子尺寸及分子量的测量。

静态光散射测量可确定高分子溶解度测试的第二维里系数。

粒度测量范围：0.3 nm（直径）至10微米，采用专利型 NIBS（非侵入式背散射）技术。

分子量测量最小可达980Da。

用于溶解度的第二维里系数测量。

全自动温度趋势测量。

样品浓度范围为0.1ppm至40%w/v。

蛋白质粒度可测量的稀释度达0.1mg/mL （溶解酵菌）。

质量因子确保数据可靠性。

专家建议报告协助改善样品备制或测量程序。

21 CFR Part 11 软件选项可实现ER/ES合规性。

科研级软件选项，为光散射专家提供了进一步分析描述运算法则的机会。

使用自动滴定仪选件进行自动测量。

流动模式功能可作为GPC/SEC粒度检测器使用。

可选择激光器，50mW，532nm，用于标准633nm激光器不能检测的样品

光学滤波片，改善荧光样品的测量。

温度范围最高可达120oC。

该系统日后可升级为带有zeta电位测量功能的系统。

马尔文帕纳科Zetasizer Nano S纳米粒度电位仪工作原理

Zetasizer Nano S在紧凑结构中包含了两种技术，且拥有一系列选件及附件，以便优化并简化不同样品类型的测量。

动态光散射法用于测量粒度及分子大小。 该技术可测量布郎运动下移动颗粒的扩散情况，并采用斯托克斯-爱因斯坦关系将其转化为粒度与粒度分布。 使用的非侵入式背散射技术(NIBS)使系统具有最高的灵敏度以及最高的动态粒度及浓度范围。

静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。 在此检测方法中，检测不同浓度下样品的散射光强，并且绘制Debye曲线。 由此，可计算平均分子量和第二维里系数。

这种测量对整个系统的灵敏度和稳定性的要求非常高，意味着每个设计元素都进行了优化，以确保精度和可重复性

软件

该软件设计旨在不影响使用简便性的情况下实现功能特点的丰富多样。 标准操作程序（SOP）可简化常规测量，质量因子可对成功测量进行确认，专家建议系统则可为数据说明提供协助。

选项

MPT-2自动滴定器能够自动对pH、电导率或任何添加剂改变所产生的效果进行研究。

|可抛弃性和可重复使用的样品池系列可优化样品量、浓度测量的优化，以及用于流量测量。

其它选件包括可改善荧光样品测量的滤波器，温度范围高达120oC，以及一个粘度计，用于确定样品粘度达到技术要求的精确性。

马尔文帕纳科Zetasizer Nano S纳米粒度电位仪技术指标

颗粒粒度及分子大小

测量范围：:   0.3 nm - 10.0μm*（直径）

测量原理：:   动态光散射

最小样品容积：:   12μL

精确度:   优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%

精确度 / 可重复性:      优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%

灵敏度:   0.1mg/mL （溶菌酶）

分子 量

测量范围：:   980Da – 20M Da*

测量原理：:   静态光散射法，使用德拜图

最小样品容积：:   12μL（需要3-5种样品浓度）

精确度:   +/- 10% 典型值

精确度 / 可重复性:      优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%

温度控制范围:        0°C - 90°C +/-0.1**, 120°C 选装

光源:        He-Ne 激光器 633nm，最大 4mW

激光安全：:   1类

电源功率:        100VA

重量与尺寸

尺寸 （宽, 长, 高）：: 320mm、600mm、260mm（W、D、H）

重量:        21 kg

运行环境

操作温度（°C）: 10°C – 35°C

湿度:        35% - 80%无冷凝

注解（N）

专利:        Zetasizer Nano系列受以下专利保护：|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580，US6016195，JP11051843|高频和低频电泳 (M3)|EP1154266，US7217350，JP04727064 |使用同时检测的光散射测量|EP2235501，CN102066901，JP2011523451，US20090251696|插入式样品池表面电位测定|WO2012172330

Malvern | PANalytical Products

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