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[材料测试] 华东师范大学电子科学技术系自动椭圆偏振仪

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发表于 2017-6-29 09:00:13 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

  • 名称 自动椭圆偏振仪
  • 资产编号20078796
  • 型号SC620UVN
  • 规格NEXUS670
  • 产地中国
  • 厂家上海三科仪器有限公司
  • 所属品牌上海三科仪器有限公司
  • 出产日期
  • 购买日期2007-11-01
  • 所属单位电子科学技术系
  • 使用性质科研
  • 所属分类
  • 联系人张金中
  • 联系电话54345223
  • 联系邮箱
  • 放置地点信息楼226
主要规格及技术指标
1) 椭偏值精度-SiO2薄膜:PASS
2) 光谱仪精度测量:PASS
主要功能及特色
从深紫外到近红外进行光谱探测,可以广泛应用在半导体、超导体以及其它凝聚态物质的光谱测量方面。能够探测宽带隙以及窄带隙半导体材料的高能临界点的跃迁行为。

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