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什么是标准半峰宽度,如何得到?

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发表于 2017-4-17 08:27:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
  所谓的标准半峰宽应该是指仪器本身的宽化因子,和实验时使用的狭缝条件关系最大,想得到它并不难:
  比如在相同的测量条件下,把Si标样放到仪器上测量Si的各个衍射峰的Kα1峰的半高宽,就是所谓的标准了。当你需要测量一系列非标样Si粉时,就把标样Si的Kα1峰的半宽作为标准半峰宽使用就可以了。
       但,有很多时候合适的标准物质很难得到,你就用另外的标准物质(出峰位置很相近的标准物质)代替,也完全没有问题。也可以根据Si标样在整个扫描范围内的衍射峰的Kα1峰的半高宽作出仪器宽化因子-2θ关系曲线来得到任意进度的仪器宽化因子。因为谢乐方程的适用条件也就是几十到200nm之间,超出这个范围误差是很大的。只要你在进行相同的一系列计算时使用相同的一个参数就一般就可以满足研究工作的要求了。


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