西南交通大学场发射透射电镜

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仪器编号        1209077S       
规格        场发射型，200kV，分辨率0.2nm，最大倍数150万
设备名称        场发射透射电镜
生产厂家        日本电子株式会社       
型号        JEM-2100F
制造国家        中国       
分类号        03040701
放置地点        0号楼分析测试中心       
出产日期        2012-11-06
购置日期        2012-11-06       
入网时间        2016-05-23
关键技术        样品倾斜角度-±35°或大于±35°
样本检测样本注意事项        1、由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。 2、除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄（离子和双喷减薄等）和超薄切片法。 3、一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程，须由用户自己完成（不具备此制样条件的院系，可借用本室的相关设备）。 4、超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序，周期较长（约一周左右）。 5、由于该仪器是高分辨型电镜，为确保仪器性能和发挥其高分辨象观察特点，目前主要接受材料领域的样品。
设备使用相关说明        该型号电子显微镜，属中高压、高分辨率透射电子显微镜，最高加速电压为 200kV 。是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。透射电镜与扫描电镜最大不同之处是分辨率极高（原子级）；放大倍数大（150万倍，另加机上10倍光学镜，可达1500万倍的观察能力），最大特点是能反映样品的内部结构。例如纳米管样品，可以观察到空芯的图像信息，而扫描电镜则无法开展此类研究。


联系人  赵国明
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