合肥工业大学分析测试中心场发射透射电子显微镜

tqyb2017

型号: JEM-2100F
制造厂商: 日本电子制造
出厂日期
所属单位:分析测试中心
放置地点:分析测试中心113室
联系电话：0551-62904719,62904712,62904797
传真号码：0551-62904719
咨询邮箱：fyfxcs@hfut.edu.cn
QQ群：HFUT分析测试交流 345510616


学科领域        新材料
主要功能        1. 微结构研究：材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析，包括衍衬成像，电子衍射，高分辨分析；2. 材料微观结构成分研究：成分的定性和半定量分析，元素的点、线和面分析，材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析。
主要技术指标       
电子枪：ZrO/W（100）Schottky热场发射电子枪分辨率：点分辨率≤0.19nm、线分辨率≤0.10nm加速电压：100，120，160，200kV放大倍率：≥× 1000000样品台：平移±1mm，最大倾角±25oSTEM附件：具备明、暗场STEM和HAADF工作模式，分辨率≤0.2nm；放大倍率≥× 500000CCD相机：≥1100万象素束斑漂移：<1nm/min会聚束电子衍射：会聚角（2α）：大于1.5-20mrad；接收角±10o样品台：普通单倾、普通双倾、铍双倾
备 注        1、粉末样品：为避免粉末脱落污染电镜，粒径一般小于1um，请先在显微镜下观察确认。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察；送样前一般先使用酒精分散；使用水分散的粉末样品请提前一天制样并在干燥箱中干燥保存。2、薄膜样品：厚度一般需小于50nm，因材料而异。直径3mm。3、减薄样品：直径3mm。3、拒绝接受磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品、以及易被电磁透镜吸引的粉末样品。