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[材料测试] 华东理工大学分析测试中心高分辨透射电子显微镜

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发表于 2017-4-9 14:58:55 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
高分辨透射电子显微镜
(High Resolution Transmission Electron Microscopy)
仪器型号(Type):JEM-2100
生产厂家(Manufacturer):日本JEOL公司
主要配置:
灯丝(Filament): LaB6(200 KV)
CCD相机(Camera):美国Gatan 832 CCD
扫描透射探头(STEM)
能谱仪(EDS):美国EDAX公司,Genesis XM2 System
全自动离子减薄仪(Ion Polishing System):美国Gatan Model 691
主要技术指标:
TEM分辨率(Resolution):点分辨率0.23 nm, 线分辨率 0.14 nm
TEM放大倍数(Magnification):′10,000 ~ ′ 600,000
EDS:4Be-92U
主要应用范围:
TEM:无机、金属等材料的高分辨形貌结构观察和微区的晶体结构分析
EDS:微区成分分析

负责老师:周丽绘         联系电话:64253847         仪器室:116


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