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耐驰公司闪射法导热仪 LFA 467 HyperFlash®

2019-11-8 20:45| 发布者: xiangqi| 查看: 229| 评论: 0

摘要: 宽广的温度范围,从-100°C到500°C无须更换检测器或炉体,LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现-100°C到500°C的宽广温度范围。加上目前市场上种类最丰富的可选配件,开创了热物性测量的新天地。进样器附有16个样品位,样品容纳量为原来的4倍LFA 467 HyperFlash的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量16个样品,大大缩短 ...

宽广的温度范围,从 -100°C 到 500°C

无须更换检测器或炉体, LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100°C 到 500°C 的宽广温度范围。加上目前市场上种类最丰富的可选配件,开创了热物性测量的新天地。

进样器附有 16 个样品位,样品容纳量为原来的 4 倍

LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品,大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮,保证仪器全天候不间断测量。

ZoomOptics 得到的测量结果更准确,减少测量误差

专利技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围,从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。

极高的采样频率(2MHz),特别适合于薄膜样品

薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率,来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率,这是 LFA 系统前所未有的。

LFA 467 HyperFlash® - 技术参数

  • 温度范围:-100°C ... 500°C,单一炉体

  • 非接触式测量,IR 检测器检测样品上表面升温过程

  • 数据采集速率:高达 2MHz(包括半升温信号检测,及 pulse mapping 技术)-- 对于高导热及薄膜样品,采样时间(约为半升温时间 10 倍)可低至 1ms,样品厚度最薄可至 0.01 mm 以下(取决于具体的导热系数)

  • 热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ...      2000 mm2/s

  • 导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 4000      W/(mK)

  • 样品尺寸:
         - 直径 6 mm ... 25.4 mm(包括方形样品)
         - 厚度 0.01 mm ... 6 mm(样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能)

  • 16 个样品位的自动进样器

  • 20 多种支架类型

  • 丰富的测量模式,适应各种类型的样品。如各向异性材料,多层模式分析,薄膜,纤维,液体,膏状物,粉末,熔融金属,压力下的测试,等等。

  • Zoom Optics 优化检测器的检测范围(专利技术)

  • 专利保护的 pulse mapping 技术(US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse),用于脉冲宽度修正,可以提高比热值的测量精度

  • 气氛:惰性、氧化性、静态/动态、负压

  • 遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585,      DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2,      等.


ZoomOptics获取更准确的测量结果,减小测量误差

对于传统的 LFA 系统设计,检测器所覆盖的检测面积通常被调整为适合样品的最大尺寸(25.4mm)。对于直径较小的样品,通常在样品之上加上遮光片或遮罩,以尽可能地遮蔽外围区域。但由于任何物体都会发射红外辐射,遮光片或遮罩材料也不例外,由此得到的检测器信号不可避免地会受到影响。该影响的程度大小与样品与遮罩材料的热扩散系数的差异有关。由此导致对于某些样品,检测器测得的温度上升曲线的尾部可能出现持续上升,或者过早地达到水平状态。不管是哪种情况,都会导致分析得到的半升温时间发生偏移,由此计算得到的热扩散系数产生误差。

使用 LFA467 配备的 ZoomOptics(专利号:DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)附件,可以更灵活地调整检测器的检测范围,确保检测器仅检测到样品上表面的温度升高过程,无需额外的遮罩,周围环境信号也没有任何影响。预设的检测直径比率为 70%,适合于大多数应用,同时软件允许操作者自由调整该数值,以适应特定的样品尺寸与应用。



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