美国TA仪器公司Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800

Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800 是先进的独立平台,用于测量材料在高温下的热扩散系数和比热容,温度范围从室温直至 2800°C。独特的设计融合了专有的激光器、激光光学元件、检测器和加热炉技术,兼具独特的多位置样品转盘,确保前所未有的测量精度和高效率。导热仪可以在不同气氛条件如 空气、真空、惰性气氛下工作,可以表征最广泛的材料种类,包括高分子、陶瓷、碳素材料、玻璃、金属和合金以及各种复合材料.

美国TA仪器公司Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800 特点和优势:

高能激光源具有比竞争对手高 40% 的脉冲能量,对大厚度的样品和较低导热系数的材料,均能在高温下提供最精准的测试。

独有的光纤传输系统,确保激光脉冲在样品表面实现 99% 的均匀分布;

专利多样品旋转样品架*,确保高效率和优异的比热测试表现;

灵活的样品架设计,可选多种样品架和转换件,以及特殊材料的测试夹具

先进的氧化铝管式炉,在各种气氛(空气,惰性和真空)下从室温到1600度确保稳定和均匀的炉温;

高灵敏度的红外探测器,在全温区内提供最优的信噪比;

实时脉冲时间分布监控,保证了测量高导热材料和较薄材料时的高精度;

满足多种测试方法和标准:

AsTM e1461

AsTM c714

AsTM e2585

iso 13826

iso 22007-Part4

iso 18755

Bs eNv 1159-2

DiN 30905

* 美国专利号 6.375.349.81

美国TA仪器公司Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800 性能参数

激光源

高温炉

探测

准确度

重复性

样品

自动进样器

      美国TA仪器公司Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800 技术

高能激光器和先进光学系统

DLF 2800 激光闪光导热仪专有的工业界最强大和最稳定的高能激光光源系统,配置最高效的光纤传输系统。 TA采用自主研发生产的一级钕玻璃Nd: Glass激光器作为激光光源,内置准直系统的光纤传输罩系统,确保高能量且均匀的激光脉冲。

TA 自主研发和制造的高能脉冲激光器

比竞争对手高出40%的脉冲能量

99% 均匀度的激光脉冲能量分布

无噪声设计 -激光器与高温炉独立的分体设计,可以消除激光对于探测系统的电磁干扰,保证光学准直系统的长期稳定性

双辐射高温计探测

DLF 2800 采用独特的双辐射高温计专利设计,保证样品温度测量的高精度和准确度。这种独特的设计,确保样品从室温升到2800°c的连续不间断升温,无需中途降温来更换样品温度探测器。 900°c以上时,额外的双色高温计的温度值可以不受样品表面辐射率的变化、光学窗口的透过率变化和准直光路的变化等带来的不确定度影响.

2800°C高温炉

DLF 2800配置了一个最高温度达2800℃的石墨炉体。这种智能模块化的优异设计,使其高温性能在同类仪器中的表现独树一帜。同时配合光纤传输罩,使得切换炉体极其方便。两种高温炉均采用高质量加热单元,马弗管式炉配合减少热扰动的多层轴向热缓冲,从而保证即使极端温度下最为稳定而均匀的加热控制。测试过程中,样品架上的每一个样品都能在全温度范围内,绝对稳定地控制在设定的恒温温度点。为了保证温度测量的准确, DLF2800 的高温炉带有两个辐射高温计,保证了高温下最大的仪器安全性,由此保证从室温到2800°c范围内最重复的热扩散系数测量.

高灵敏红外探测器和光学系统

DLF 1600 和 DLF 2800 均采用高灵敏度的液氮冷却的 insb红外探测器,在测试温区范围内具有最优的信噪比。内置液氮杜瓦瓶可提供 24 小时无人操作时间。红外探测光路的光学系统,保证均匀而准确的记录样品背面的红外辐射温升信号。红外探测面积覆盖样品表面 90% 的面积,可以排除诸如边缘激光透过干扰等由于样品制备不完美而导致的辐射干扰.

灵活的高效率样品架

DLF2800 的专利旋转多位样品架技术,可全温区范围内,单个实验同时进行 5 或 6 个样品的测试。这种标配样品架的多样品测试能力,大大减少了实验之间的降温时间,显著提高了测试通量,提高了测试效率。此外,它还能提供最准确的比热 Cp 测量;闪光法的比热测量准确度依赖于样品和参比处于相同的热环境中,并照射相同的激光能量。多样品架保证了样品和参比能在相同的热环境中依次测试,快速得到准确结果,从而得出准确的导热系数值。

多样品架可容纳的样品直径最大15.9 mm,厚度最大10 mm,分别比竞争对手大20%的直径,和50%的厚度。可拆装的样品盘设计,简化了样品装卸。可选样品盘能够包容不同形状和尺寸的样品,包括圆形、方形、特殊样品盘(液体、粉末、膏体)和膜材料的面内支架.