东华大学分析测试中心场发射透射电子显微镜（FE-TEM）

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仪器型号：JEM-2100F
生产厂家：日本JEOL
主要配置：STEM探测器、HAADF探测器，IET 200型X射线能量色散谱仪(英国Oxford)， 652型双倾加热样品台，613型单倾冷冻样品台，SA2000型原位纳米材料单体力学性能表征单倾样品台，ST1000型原位纳米材料单体电学性能表征单倾样品台。
主要技术指标：加速电压: 80～200 kV；放大倍数:TEM 50～1,500,000，STEM（HAADF）100～50，000,000；TEM点分辨率: ≤0.19nm，TEM晶格分辨率: ≤0.10 nm；STEM（HAADF）分辨率: ≤0.20nm；元素检测范围：5B～92U。
主要用途：材料内部微观结构分析；样品微区的元素成分及其分布的分析；加热或冷冻情况下材料微观结构的分析；一维纳米材料的原位电学性能和力学性能测试。
仪器责任教师：阎捷（B111室）
地址：上海市松江区人民北路2999号 东华大学五号学院楼B区 东华大学分析测试中心
电话：（021）67792821；（021）67792818
传真：（021）67792818
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邮编：201620