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[材料资讯] 田鹤:二维限域内室温面外铁电和隧道电流变的直接观察

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发表于 2018-8-29 08:20:04 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

在凝聚态物质中,有序参数,如铁磁磁化、超导能隙和铁电极化,由于尺寸、表面和界面效应以及量子波动,通常在减小的尺寸下被抑制。最近,研究人员观察到单层Fe膜表现出长程铁磁有序,并且在单层金属膜和FeSe膜中存在二维超导性,这完全打破了长程有序的尺寸限制。在铁电中,虽然在原子厚的SnTe中实验观察到了强的面内自发极化,但是由于铁电(FE)/金属界面处极化电荷的不完全屏蔽以及界面应变、错配位错和表面重建的外在影响,认为原始薄膜中存在面外铁电的临界厚度。理论上,钛酸钡(BTO)的临界厚度为2.4 nm,而实验表明BaTiO3 (BTO)的临界厚度为1.2 nm,共聚物的临界厚度为1 nm。最近,在通过离子研磨变薄的1.5 (u.c.)电池厚的PbZr0.2Ti0.8O3 (PZT)膜中观察到自发极化,其体积值为17 %。然而,到目前为止,直接生长原子厚度的FE膜在室温下具有垂直于膜表面的极化仍然是一个挑战。

近日,来自浙江大学的田鹤研究员和新加坡国立大学的Chen Jingsheng副教授联合在Nature Communications上发表文章,题为:Direct observation of room-temperature out-of-plane ferroelectricity and tunneling electroresistance at the two-dimensional limit。四方相BiFeO3超薄薄膜显示了室温下二维极限的铁电顺序。使用球差校正的扫描透射电子显微镜,作者直接观察到了一个单位晶胞厚的BiFeO3薄膜中强的面外自发极化。高分辨率压电响应力显微镜测量表明,极化是稳定的和可切换的,而在BiFeO3薄膜中实现了高达370 %的隧道电流变效应。基于第一原理计算和开尔文探针力显微镜测量,作者解释了通过氧化物电极中的离子位移和表面电荷来稳定极化的机理。作者的结果表明,BiFeO3薄膜中的铁电临界厚度实际上是不存在的,这使得它成为高密度非易失性存储器的一个有希望的候选者。

作者观察到了平面外室温铁电性及其在四方晶系BiFeO3薄膜中的可转换性,直到二维极限。实验观察和理论计算表明,氧化物电极的晶体结构、四方性、界面化学环境和离子极化有助于降低或消除铁电的临界厚度。此外,在FTJ中,使用1-u.c.四方BiFeO3隧道势垒,TER比率达到了约370 %,这对于高密度数据存储显示出巨大的前景。作者的发现将为铁电基器件的小型化开辟可能性。

文献链接:Direct observation of room-temperature out-of-plane ferroelectricity and tunneling electroresistance at the two-dimensional limit, (Nature Communications, 2018, DOI: DOI: 10.1038/s41467-018-05662-y)。


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