布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术.使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史。 高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证! 先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。 德国布鲁克公司D8 Advance X射线衍射仪技术指标要求 仪器采用当前最先进的技术,能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相定性分析、物相定量分析(包括无标样定量分析)、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算、固溶体等。 1.1 X射线光源部分 1.1.1 X射线发生器部分 *1.1.1.1 最大输出功率:≥2.2 kW 1.1.1.2 电流电压稳定度:优于±0.005% (外电压波动10%)时 1.1.1.3 X射线防护:射线剂量≤1 μSv/h 1.1.1.4 最大管压:60kV *1.1.1.5 最大管流:80mA 1.1.2 X光管 *1.1.2.1 光管类型:Cu靶,陶瓷X光管 *1.1.2.2 光管尺寸:标准尺寸,能与其他厂家的光管互换 1.1.2.3 光管功率:2.2 kW 1.1.2.4 最大管压:60kV *1.1.2.5 最大管流:80mA 1.1.2.6 光管焦斑:0.4 x 12 mm 1.2 测角仪部分 *1.2.1 测角仪:采用光学编码器技术 *1.2.1.1 扫描方式:q/q测角仪,测角仪垂直放置 1.2.1.2 测角仪半径:≥200 mm 1.2.1.3 2q转动范围:-110°~168° *1.2.1.4 可读最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001° *1.2.1.5 驱动方式:步进马达驱动+光学编码器 *1.2.1.6 最高定位速度:1200°/min 1.3 一维阵列探测器 *1.3.1 子探测器个数:≥180个 *1.3.2 探测器活性面积:≥14mm × 16mm 1.3.3 背景:< 0.1 cps 1.3.4 能量分辨率:< 20%,具有自动去除荧光功能 *1.3.5 子探测器开放个数可调,具有零维模式,可以替代点探测器 *1.3.6 确保没有坏子探测器,具有静态扫描功能 1.4 仪器控制和数据采集系统 1.4.1 计算机,不低于如下配置:DELL计算机:双核 3.0GHz、2G内存、160GB硬盘、可擦写光驱,19"液晶显示器,100M网卡 1.4.2 仪器控制和数据采集软件 1.5 应用软件:要求提供以下应用分析软件 1.5.1 物相检索软件:含原始数据直接检索功能 1.5.2 物相定量分析:可编程定量分析软件 1.5.3 线形分析软件:采用基本参数法 *1.5.4 (考虑了仪器几何条件的)无标样晶粒大小分析及微观应力分析 *1.5.5 无标样定量分析软件 1.5.6 结构精修软件 *1.5.7 最新结构数据库,且可以免费更新 1.6 循环水冷系统 1.6.1 工作要求:连续工作 1.6.2 控温精度:≤±2℃ 1.6.3 供水流量:满足发生器要求 1.6.4 进水温度:可调 1.6.5 保护:过热保护 1.7 培训、安装、技术文件 免费国内培训(买方负责受训人员差旅费)、免费安装调试及现场培训、提供有关的全套技术文件。 2 仪器及生产商必须满足的相关国际安全标准 2.1 质量标准:ISO9001 & EN29002认证 2.2 欧洲安全标准:CE 认证 2.3 射线防护标准:DIN 54113认证 3 技术服务 厂家在国内要有维修中心,要有专职的维修工程师,要有备品备件库。在提出维修要求后,能在2小时内做出维修响应,2- 4个工作日内到达用户现场。 声明:本网部分文章和图片来源于网络,发布的文章仅用于材料专业知识和市场资讯的交流与分享,不用于任何商业目的。任何个人或组织若对文章版权或其内容的真实性、准确性存有疑义,请第一时间联系我们,我们将及时进行处理。 |
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