日本理学（Rigaku）TTRAX III X射线衍射（XRD）分析仪

TTRAX III是世界最强衍射仪。在一个θ/θ几何构成中使用一个18kW旋转阳极X射线源为所需的应用提供完美系统。TTRAX’的高能量射线源为薄膜衍射和粉末样品的微量物相确定。

多功能性

TTRAX III X射线衍射（XRD）分析仪包含交叉光学技术(CBO)和独立面内散射轴,从而在无需重新配置系统的条件下提供尽可能广泛的测量几何结构。实验能力包括标准粉末衍射、斜入射角衍射、面内衍射、高分辨率衍射、X射线反射和小角度X射线散射(SAXS)。TTRAX可以与范围广泛的选购附件配置从而获得最大的灵活性。

TTRAX III X射线衍射（XRD）分析仪主要特点:

强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRAX III系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

TTRAX III X射线衍射（XRD）分析仪技术参数

1. X射线发生器功率为旋转阳极强力转靶18KW

2. 测角仪为水平测角仪

3. 测角仪zei小步进为1/10000度

4. 测角仪配程序式可变狭缝

5. 高反射效率的石墨单色器

6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)

7. 小角散射测试组件

8. 多用途薄膜测试组件

9. 微区测试组件

10. In-Plane测试组件(理学独有)

11. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC

12. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

TTRAX III X射线衍射（XRD）分析仪主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析