日立场发射透射电子显微镜 HF-3300

日立驰名的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。

日立场发射透射电子显微镜HF-3300主要特点:

高亮度场发射电子枪冷

冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。

300kV高压系统

300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。

独特的分析能力

新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

可与FIB联用样品杆

日立公司专有的样品杆可适应FIB、TEM和STEM的使用。

简便易用的控制系统

基于Windows开发的电脑控制系统、马达驱动可动光阑和5轴马达样品台使得仪器简单易用,10分钟的升压时间和1分钟的换样时间保证了仪器高效率的运转。

日立场发射透射电子显微镜HF-3300技术参数:

项目         主要参数

电子枪     单晶钨(310)冷场发射电子枪

加速电压         300kV、200kV*、100kV*

点分辨率         0.19nm

线分辨率         0.10nm

信息分辨率     0.13nm

放大倍率         低倍:200x - 500x;观测:2,000x - 1,500,000x

图像旋转         ≤±5°(观测模式,1,000,000x以下)

样品倾斜         ±15°

相机长度         300 – 3,000 mm

能谱立体角*  0.15Sr

日立场发射透射电子显微镜HF-3300应用领域:

HF3300作为一款冷场发射的高电压透射电镜,可以作为大部分材料类(金属、陶瓷等)样品高分辨观察的设备,既可以简化制样的难度,也可以保证高分辨率。同时,HF-3300也可以满足高空间分辨率分析的需求,高亮度、低色差的冷场发射电子枪为高空间分辨率的元素和结构分析提供了保障,配合EELS和纳米束衍射功能可以实现对纳米尺度元素的分布以及晶体结构的研究。独特的双棱镜全息成像功能使得HF-3300可以获得更多样品的信息,尤其是与物理性能相关的信息,大大扩展了其应用领域。