日本电子JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM^TM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合,进一步提高了生物样品的衬度。

场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM^TM 200主要特点

◇ 自动样品更换系统

该系统由一个液氮冷冻样品台和冷冻传输系统构成, 该冷冻传输系统能够自动地将冷冻样品传送到冷台,液氮也是按照 需要自动地供应给液氮箱。在样品更换系统内可以保管12个被冷冻的样品,在取出和更换一个或几个样品的同时,其他的冷冻样品仍然保存在自动样品更换系统内。

◇ 冷场发射电子枪

冷场发射电子枪能够产生高亮度低能量散射的电子束,CRYO ARM^TM 200能够获得高分辨、高衬度图像

◇ 柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)

CRYO ARM^TM 200配备柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器),能够获取能量过滤像和能量损失谱图,而且零损失像的衬度高色差低。

◇ 单粒子分析用自动图像获取软件

CRYO ARM^TM 200配备单粒子分析用自动图像获取软件。能够自动地检出样品栅格小孔,有效采集单粒子图像。

◇ 无孔位相板(选配件)

该无孔位相板有效用于衬度低的生体样品,可以获得较高的衬度。

◇ 自动调整功能(使用底插CCD情况下)

可以使用自动聚焦、自动无像差校准、自动平行光等自动功能,在优化条件下获取图像。

场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM^TM 200主要技术参数

主机

 ※ 热场发射电子枪也可以配置

样品台/自动样品更换系统

样品台

样品移动

冷冻电镜

冷冻电镜,是用于透射电镜的超低温冷冻制样及传输技术(Cryo-SEM),可实现直接观察液体、半液体及对电子束敏感的样品,如生物、高分子材料等。样品经过超低温冷冻、断裂、镀膜制样(喷金/喷碳)等处理后,通过冷冻传输系统放入电镜内的冷台(温度可至-185℃)即可进行观察。其中,快速冷冻技术可使水在低温状态下呈玻璃态,减少冰晶的产生,从而不影响样品本身结构,冷冻传输系统保证在低温状态下对样品进行电镜观察。