Dimension FastScan TM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 布鲁克Dimension FastScan原子力显微镜特点 • 最高分辨率成像—无论何时,不论哪次 • 高带宽,从而快速扫描,观察实时变化 • 潜力无限—极其灵活的开放式架构 • 获得最全面的纳米尺度的定量特性参数 • 超乎想象的简单 布鲁克Dimension FastScan原子力显微镜技术细节 卓越的仪器检测性能 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。 自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。 无与伦比的测量分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高了图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。 扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。 低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。 全面的测试功能,适用于各类AFM样品 闭环控制的Icon和FastScan的扫描器极大的降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。 Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证扫描过程中从埃级到0.1μm的高精度无失真扫描。 不论您选择Icon扫描器获得超低噪音和超高分辨率的图像,还是选择Dimension FastScan AFM的扫描器进行高速扫描检测,Dimension FastScan AFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到最大程度,实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。 声明:本网部分文章和图片来源于网络,发布的文章仅用于材料专业知识和市场资讯的交流与分享,不用于任何商业目的。任何个人或组织若对文章版权或其内容的真实性、准确性存有疑义,请第一时间联系我们,我们将及时进行处理。 |
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