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牛津仪器Cypher VRS原子力显微镜

2019-11-10 10:18| 发布者: longmai| 查看: 306| 评论: 0

摘要: Cypher VRS AFM是AsylumResearch首款,也是一款全功能视频级AFM。该款Asylum Research Cypher AFM包含了多种分辨率范围,并具有多功能,易操作等优点,使科研人员终于能够以视频级的速度,来研究纳米级的动态过程。高分辨率的视频级成像,扫描速度可达每秒625行易于使用,—即使在帧速达每秒10帧的情况下提供多种模式和配件——拥 ...

Cypher VRS AFM是AsylumResearch首款,也是一款全功能视频级AFM。该款Asylum Research Cypher AFM包含了多种分辨率范围,并具有多功能,易操作等优点,使科研人员终于能够以视频级的速度,来研究纳米级的动态过程。

高分辨率的视频级成像,扫描速度可达每秒625行

易于使用,—即使在帧速达每秒10帧的情况下

提供多种模式和配件——拥有Cypher ES的所有功能(在正常扫描速度下)

牛津仪器Cypher VRS原子力显微镜特点和优势


高分辨率的视频级成像,扫描速度可达每秒625行

Cypher VRS sets a new speed benchmark—at least 10× faster than current “fast scanning” AFMs.

Captures data directly to a video format, not individual image frames

Capture images at pixel density (512×512) in just over a second, or reduce scan lines to achieve video rates >10 fps


易于使用,—即使在帧速达每秒10帧的情况下

blueDrive photothermal excitation makes video-rate simple and stable

Scanner is extremely robust and fully sealed against liquid spills for complete reliability

Motorized laser and alignment makes quick work of instrument setup


提供多种模式和配件—拥有Cypher ES的所有功能(在正常扫描速度下)

Includes all of the modes included on the Cypher ES with blueDrive

Supports all of the optional modes available on the Cypher ES

Compatible with all of the Cypher ES optional accessories


专业的售后及服务

提供为期两年的全面保修服务。

提供终生技术支持和专业应用支持。

延长保修期和维修服务可供选择。


牛津仪器Cypher VRS原子力显微镜包括以下

操作模式

Contact mode

DART PFM

Dual AC

Dual AC Resonance Tracking (DART)

Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Force curves

Force Mapping Mode (force volume)

Force modulation

modulation

Kelvin Force Microscopy (KPFM)

Lateral Force Mode (LFM)

Loss tangent imaging

Force Microscopy ()

Nanolithography

Nanomanipulation

imaging

Piezoresponse Force Microscopy (PFM)

Switching PFM

Tapping mode (AC mode)

Tapping mode with digital Q control

Vector PFM

Included because Cypher VRS comes with blueDrive

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode

Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode


可选操作模式

Conductive (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode

Current mapping with Fast Force Mapping

Electrochemical Strain Microscopy (ESM)

Fast Force Mapping Mode

voltage PFM

Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)

Scanning Impedance Microscopy (sMIM)

Scanning Tunneling Microscopy ()


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